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用一系列生成元模拟了具有不同特征的、与原子力显微镜图像相似的规则粗糙表面.详细讨论了规则粗糙表面多重分形谱参数的意义.并通过与方均根粗糙度(rms)和简单分形维数D0的比较,描述了多重分形分析的优点.最后用多重分形的方法分析了由AFM测量的ZnO薄膜和高聚物PtBuA薄膜的表面形貌.
粗糙薄膜表面的原子力显微镜研究和多重分形分析
【摘 要】
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用一系列生成元模拟了具有不同特征的、与原子力显微镜图像相似的规则粗糙表面.详细讨论了规则粗糙表面多重分形谱参数的意义.并通过与方均根粗糙度(rms)和简单分形维数D
【机 构】
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中国科学技术大学,中国科学技术大学
【出 处】
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电子显微学报
【发表日期】
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2002年3期
【基金项目】
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国家自然科学基金，Foundation for High Performance Computing, Foundation of Chinese Education Committee and Foundation of Chinese Academy of Science
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