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本文针对绝缘劣化与局部放电相互影响作用,分析了影响绝缘寿命的因素和局部放电的机理过程。重点阐述不良绝缘下的放电规律和特征,同时也分析介质的结构、特性对等效参数的影响。并以常见的绝缘缺陷为例,展示了三电容放电的物理模型。以放电的物理过程为基础建立仿真模型,根据实例计算仿真参数。该模型考虑放电通道的等效阻抗,构造了基于电阻-电感-电容的新的物理模型,同时对模型的拓扑结构给予改进。