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随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT（可测性设计）测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST（存储器内建自测试）以及BISR（内建自修复）。