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2006年3月20日，科利登系统有限公司宣布：香港科技园（HKSTP）在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础上，增加了激光调试和先进的发射显微镜，进一步完善其特征分析产品系列：这些新技术可以为香港科技园提供一个完整的失效分析实验室，从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷，帮助客户缩短产品上市时间，降低生产成本。