<正>电感耦合等离子体——原子发射光谱分析（ICP-AES）是当今痕量元素分析中占据重要地位的一项技术。Mermet[1]指出:这应归因于它具有良好的分析性能,如高灵敏度、精密度、选择性、稳定性及低检出限;宽动力学线性范围及弱基体效应,可进行多元素顺序或同时分析。特别在基体效应方面远优于原子吸收光谱法,早期ICP-AES的创始人Geenfield[2]及Fassel[3]甚至认为这一方法不存在基体效应。但继后的工作证实,也还存在一些足以影响分析结果的各类基体效应。因而正确识别ICP-AES基体效应的来源及其对分析信号的影响程度,是保证分析方法准确与精密的重要问题。20世纪80年代研究发现,影响ICP-AES分析的基体物质主要有易电离元素（EIE）、无机酸及有机溶剂三类。90年代以来对这几类基体物质的干扰机理及消除方法进行了深入的研究。特别应该指出,以Mermit[4]为首的工作,在ICP-AES基体效应的研究方面取得了一系列丰硕成果,推进了ICP-AES分析技术的发展。本文仅就三类基体效应及其抑制方法的研究状况简述如下。