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用红外显微热成象系统可以标定固体继电器中场效应管的芯片表面发射率，测量芯片表面温度和场效应管的热阻，判断固体继电器的热可靠性。
固体继电器热性能测试方法
【摘 要】
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用红外显微热成象系统可以标定固体继电器中场效应管的芯片表面发射率，测量芯片表面温度和场效应管的热阻，判断固体继电器的热可靠性。
【机 构】
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清华大学工程力学系
【出 处】
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电子工艺技术
【发表日期】
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1994年3期
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