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用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,和其他化学分析法相比,其克服了常规化学分析法工作量大、耗时长、步骤繁琐、测量准确度低等方面的缺点,显著的提高了工作效率以及测量精度与准确度。文章采用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,试验结果表明,二氧化硅的检出限为0.008 0 mg/L;测定范围为0.023%～9.2%;方法的精密度均〈1.8%。