论文部分内容阅读
FPGA 是广泛应用于集成电路设计，片上系统等多领域，随着 FPGA 的广泛应用，对其可靠性的要求也越来越高，由于其结构和功能复杂，其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构，提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例，简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。