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铂丝的位错是影响标准铂电阻温度计性能稳定性的重要因素之一。从微观角度出发,借助X射线衍射(XRD)分析方法,开展了退火时间对铂丝位错密度影响的研究,并利用标准铂电阻温度计退火实验数据进行了验证。结果表明:实际用于标准铂电阻温度计直径为0.07 mm的新制铂丝(纯度99.999%)平均位错密度随着退火时间呈指数减小,经过100 h退火后位错密度从1012cm^-2下降到1011cm^-2,300 h后其位错密度基本保持稳定;新制标准铂电阻温度计在退火前300 h其水三相点电阻值明显减小,退火300 h后水三