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期刊论文
半导体器件应用中的可靠性及失效分析
半导体器件应用中的可靠性及失效分析
来源 :电子元器件应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liqund7h
【摘 要】
:
本文统计分析了引起半导体器件失效的一些主要失效原因,阐明了失效分析在提高半导体器件和电子产品质量与可靠性方面所发挥的重要作用。
【作 者】
:
马璇
【机 构】
:
骊山微电子公司
【出 处】
:
电子元器件应用
【发表日期】
:
2000年12期
【关键词】
:
半导体器件
可靠性
失效分析
Reliability of Semiconductor devices Failure Analysis
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本文统计分析了引起半导体器件失效的一些主要失效原因,阐明了失效分析在提高半导体器件和电子产品质量与可靠性方面所发挥的重要作用。
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