论文部分内容阅读
针对目前单粒子故障注入实验中存在的故障注入位置盲目导致的效率低下、耗费大量的时间人力成本从而难以在工程项目中推广的问题,提出一种SRAM型FPGA故障注入实验集的筛选方法用来指导单粒子故障注入.该方法剖析SRAM型FPGA芯片结构,归纳单粒子故障的时间特性,确定单粒子故障模式;并结合具体FPGA设计的资源占用情况、资源特性、资源连接关系等给出故障注入实验集的筛选和优先级排序方法;搭建单粒子故障注入原型系统对所提方法进行了工程验证.结果表明提出的单粒子故障注入实验集的筛选和优先级排序方法正确、有效,能快速定