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在Z箍缩实验中，利用ST1432红光闪烁体、多模石英光纤探头和大电流光电倍增管探测器等研究了丝阵等离子体内爆过程中沿轴向与径向不同方位角的X光辐射功率分布。采用的负载为单层钨丝阵和单层铝丝阵，驱动电流1．5～1．8MA，上升时间60-90ns。实验结果表明：Z箍缩等离子体X光辐射强度有轴向和径向分布不均匀性；单层钨丝阵轴向X光辐射强度大于径向辐射强度；单层铝丝阵径向X光辐射强度大于轴向辐射强度。