【摘 要】
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In this paper,the reliability of sense-switch p-channel flash is evaluated extensively.The endurance result indicates that the p-channel flash could be programmed and erased for more than 10000 cycles;the room temperature read stress shows negligible infl
【机 构】
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The58thInstitutionofElectronicScienceandTechnologyGroupCorporationofChina,SchoolofElectronicSciencea
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In this paper,the reliability of sense-switch p-channel flash is evaluated extensively.The endurance result indicates that the p-channel flash could be programmed and erased for more than 10000 cycles;the room temperature read stress shows negligible infl
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