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寿命是衡量半导体器件的重要指标,主要对贮存在不同海域的晶体管的寿命差异及产生这种差异的原因进行了分析。对沿海仓储条件下的晶体管的各项参数进行了测试及分析,外推出其寿命,并对影响其寿命的相关因素进行了分析。通过对实际贮存在不同海域的晶体管进行测试及寿命的外推,得出了贮存在旅顺、舟山、湛江的晶体管的平均寿命分别为1.4×105h（15.9年）、2.8×105 h（31.9年）、1.5×105 h（约17年）。分析得出的结论是：太阳辐射最大强度和年辐射总量是影响晶体管寿命的最关键因