【摘 要】
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为实现并行测试系统高速数据的存储需求,利用FPGA（Field-Programmable Gate Array）以并行控制的特性,内部构建两级多通道并行缓存架构,设计了一种大幅提高数据存储速度的高效的
【机 构】
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中北大学电子测试技术国家重点实验室,中国电子科技集团公司第十一研究所
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为实现并行测试系统高速数据的存储需求,利用FPGA（Field-Programmable Gate Array）以并行控制的特性,内部构建两级多通道并行缓存架构,设计了一种大幅提高数据存储速度的高效的实现方法。在硬件方面,利用多片NAND Flash构成多通道存储阵列,通过在通道间并行操作,通道内芯片的流水线操作,结合FPGA内部的高速数据缓存机制来解决数据存储的速度瓶颈。测试结果表明该模块具有存储速度高,扩展性强等特点,能广泛应用于高速海量数据存储需求。
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