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在 FPGA 器件的测试领域，由于通用 ATE 的局限性，需要为 ATE 设计 FPGA 配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差，给 FPGA 器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的 FP‐GA 多重自动配置技术，设计采用 FPGA 作为主控制器，大容量 FLASH 芯片用于存储目标 FPGA 的配置数据，具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点，实现了 Xilinx 公司绝大部分不同型号的 FPGA 器件的多重、自动、快速重配置，有效地解决了原配置方案的弊端，提高了 FPGA 测试的效率。