皮质发育不良癫(痫)发作间期脑电图在术前评估的定位价值

来源 :癫癎与神经电生理学杂志 | 被引量 : 0次 | 上传用户:javashhai2
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目的:探讨头皮脑电图(EEG)在局灶性皮质发育不良(focal cortical dysplasia,FCD)癫(痫)病人发作间期的特点及定位致(痫)区的意义.方法:选择自2010年5月~2013年5月我中心收治的50例行颅内电极埋置术,并经病理证实为FCD的患者为研究对象.将颅内电极脑电图(intracranial e-lectrodes EEG,IEEG)发作间期放电(interictal discharge,IID)与头皮脑电图(EEG) IID分为四种类型:A型独立棘波;B型重复棘慢波;C型多棘波;D型阵发性快活动.IEEG发作期放电(ictal discharg,ID)分为3型:Ⅰ型阵发性快活动;Ⅱ型棘波节律;Ⅲ型小于8 Hz的节律性电活动.将50例患者头皮EEG-IID与IEEG-ID分析比较.结果:50例头皮EEG-IID的A、B、C、D各型的波形、部位与IEEG-ID相比,其间均有显著性差异.6例头皮EEG-IID在D型中,5例IEEG-ID为Ⅰ型,术后随访预后均为EngleⅠ级;10例头皮EEG-ID在C型中,7例IEEG-ID为Ⅰ型,术后随访为Engle Ⅰ级的6例;C、D型Engle Ⅰ级1 2例.而头皮EEG-IID中A型16例,术后随访EngleⅠ级的4例,定位意义明显弱于其它类型.结论:50例中头皮EEG-IID以棘波、尖波波形较为多见,且范围较IEEG-IID广泛.经过由皮层到头皮的传导,不论是IID还是ID,异常放电形式均有可能发生改变.头皮EEG的C、D型IID较为局限,定位可靠性较高.
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