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目前，无论是国家或行业发布的校准规范，还是仪器生产商提供的校准方法．对于仪器众多的校准项目，只能要求对其典型点进行多次测量，求出算术平均值和实验标准偏差，从而求出测量不确定度。但很难给出测量范围内任一点的测量不确定度，而在仪器的实际使用过程中．往往需要知道非典型点的不确定度，如果能从这些典型点的数据推断出全量程任一点的测量数据，即求解出校准公式，就不仅能满足各类用户的需要，还能大大节省仪器校准成本，田口方法就很好地解决了仪器校准过程中的这一难题。