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CMOSAPS光电器件因低功耗、小体积的特点已成为遥感卫星成像的重要发展方向。随着半导体技术的不断进步，其单粒子效应已经成为一个影响可靠性的重要因素。针对CMOSAPS光电器件，利用实验室脉冲激光模拟单粒子效应设备模拟了重离子在APS光电器件中引起的辐射损伤，分析了CMOSAPS光电器件内部不同功能单元对单粒子效应的敏感性，获得了单粒子效应敏感参数。结果表明，CMOSAPS光电器件在空间辐射环境中会诱发单粒子翻转和单粒子锁定。研究结果为进一步分析CMOSAPS光电器件的抗辐射加固设计提供了理论支持。