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为了解决在Weibull单元的某继电产品寿命试验中无失效数据或失效数据极小情况下的可靠性评定问题，应用Bayes方法，研究了可靠性下限和可靠寿命下限的解法，结果可适用于寿命试验或加速寿命实验中的II型截尾和I型截尾.
失效个数极小情况下某继电产品的可靠性评定
【摘 要】
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为了解决在Weibull单元的某继电产品寿命试验中无失效数据或失效数据极小情况下的可靠性评定问题，应用Bayes方法，研究了可靠性下限和可靠寿命下限的解法，结果可适用于寿命试验或
【机 构】
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大庆石化总厂计算机开发公司,阿城继电器股份有限公司,武汉化工学院计算机科学与工程系
【出 处】
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武汉化工学院学报
【发表日期】
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2001年1期
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