微处理器功能测试图形的自动生成与压缩

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本文首先介绍 LEAD(Lead Execut-e And Diagnose)法生成功能测试图形的基本方法及图形压缩问题,然后结合所作实际工作以8085微处理器为例讨论用 LEAD法自动生成压缩图形的方法,并对图形的压缩与否作评价比较。 This paper first introduces the basic method of LEAD (Lead Execut-e And Diagnose) method to generate functional test graphics and the problem of graphics compression. Then, with the actual work taken in the 8085 microprocessor as an example to discuss the method of automatically generating compressed graphics by LEAD method, Graphics compression or not for evaluation comparison.
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