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本文介绍了测量纳米颗粒粒度时应用广泛的几种方法：透射电镜观察法（TEM观察法）、扫描电镜（SEM）观察法、X射线衍射线宽法（谢乐公式）的原理、适用范围及其优缺点。文中介绍了纳米测量技术的发展趋势并简单总结了动态光散射法、超声测量法的发展现状。动态光散射法、超声测量法具有不破坏、不干扰体系原有状态的优点,特别适用于工业化生产中产品粒径的检测。