论文部分内容阅读
本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，构造测试生成的粒子表达方式，建立自动测试生成离散粒子群速度一位置模型，通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜索。针对国际标准时序电路的验证结果表明，与同类算法相比，该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。