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目标检测是毫米波多普勒引信信号处理的重要内容，在目标检测过程中，传统功率谱等技术不能充分揭示隐含于目标回波中的高阶统计信息，不能消除噪声和杂波的影响，不利于目标特征分析及检测，因此提出了基于双谱分析的毫米波多普勒引信目标检测技术，利用双谱及双谱对角切片进行特征分析及优化，通过对实测毫米波多普勒引信数据进行理论分析和试验仿真，结果表明采用双谱分析的毫米波多普勒引信目标检测方法有效可行。