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利用原子集团多重散射方法分析了表面吸附系统CH_3O/Cu(100)的氧原子K壳层近边X射线吸收精细结构(NEXAFS)谱。理论分析直观地显示了NENAFS谱中各特征峰的可能组成,特别是确证了在X射线垂直入射下的谱线中的宽峰主要是由衬底的背散射所引起,也支持了CH_3O分子是垂直吸附在Cu(100)表面的观点,其可能倾角范围不超过10°。