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边界扫描测试技术很好地解决了VLSI电路诊断、测试的困难问题,得到了广泛的应用.作者在查阅大量文献资料的基础上,总结出了边界扫描技术在提高电路板可测试性上的两种优化问题:即设计过程中设计复杂性和测试性改善的优化,以及在测试生成算法中紧凑性与完备性优化的问题,论文详细分析了这两种问题,分析比较了相关的优化算法,并对这两种优化问题未来的发展方向进行了预测.