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存储器可测性设计技术概述rn可测性设计,简称DFT(Design for Testability),是以提高可测试性为目的进行的设计.DFT技术包括设计规则和约束,旨在通过提高内部测试的可控制性和可观察性来提高设计的可测试性.DFT的一种公知形式是电平敏感扫描设计(LSSD),它涉及修改设备的内部存储元件,以便在测试模式下,这些存储元件形成移位寄存器的各个阶段,以扫描测试数据激励,并扫描出测试响应.