彩色PDP的真空紫外测试技术研究

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叙述真空紫外(VUV)测量技术的特点并将这种技术用于彩色PDP的测量中。测量了双基板型单元和单基板型单元的瞬态放电过程。得出两种单元的放电延时分别为0.6μs及1.1μs。采用真空紫外光谱仪对荧光粉的激发光谱和发射光谱进行测量,并计算出其相对发光效率,以评价荧光粉的质量。对稀有气体的发光光谱进行研究,发现有两种混合气分别在283nm及295nm具有较强的紫外辐射,从而有希望获得PDP激励波长的“红
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