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本文论述了开口同轴(无外加法兰)非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法.文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理.由于FDTD法建模是一种全波分析方法,因此该模型相当准确.在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基片的复介电常数,所得结果与它们的典型值非常吻合.开口同轴法测量具有非破坏性,适于现场测量,而且具有设备简单、操作方便、测量精度高等优点.