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1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。