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【目的】分析拟南芥xtc1突变体茎部表皮蜡的组分和含量，并鉴定导致xtc1突变体表型的基因。【方法】通过气相色谱法分析拟南芥xtc1突变体与Ler野生型茎部表皮蜡的成分；利用图位克隆确定突变基因位点，通过在拟南芥xtc1突变体中过量表达FATB基因，验证突变位点与FATB基因的关系。【结果】拟南芥xtc1突变体茎部表皮蜡总量约为Ler野生型的1/3，且各组分含量均明显减少；将突变基因定位在第1染色体顶端物理距离为80 kb的2个标记T27G7-3和F22O13-1之间，该区域含有21个基因。T-DNA插入