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本试验以高能氩直流等离子体（DCP）为激发光源，在SpectroSpan V中阶梯光栅光谱仪上建立了测定Co中Fe、Mn、Ni、Ca、Na等杂质的方法。方法的准确度高，精密度好。利用测得的Cu标准溶液的强度值为调节光谱仪入射狭缝在等离子体激发区内的位置，考查了等离子体激发区位置和等离子体漂移对测定结果的影响。