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本文研究了NiFe合金薄膜及层状结构NiFe/Cr/NiFe薄膜的各向异性磁阻效应。薄膜采用离子束溅射技术制作,利用直线型四探针法测量薄膜的各向异性磁电阻特性。由实验结果得到磁阻特性与膜厚的关系。讨论了NiFe/Cr/NiFe膜中两层NiFe膜之间存在反铁磁交换耦合时磁阻效应显著增强的现象。其Δρ/ρav达到5.07％。