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应用波长扫描x射线荧光光谱仪对粗银中Ag、Au、cu、se、Te、sb、Ph、Pd、Bi九种元素进行测定。运用空白试样系数校正法对各元素的谱线重叠进行校正，理论系数与经验系数相结合对样品基体效应进行校正，有效克服了各元素谱线的背景干扰与基体效应。精密度试验和比对试验表明：该方法分析检测值与化学法检测值相吻合；分析相对标准偏差为0．24％～13．64％，对比分析相对误差为0～13．93％；本方法简单、快速、准确。