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根据遗传算法,提出了一种B样条曲线逼近大量测量点的方法.为了使曲线具有良好的光顺性和曲线在端点处较好的控制性,采用端点插值的三次非均匀B样条算法逼近测量数据点.
测量数据的B样条曲线逼近算法
【摘 要】
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根据遗传算法,提出了一种B样条曲线逼近大量测量点的方法.为了使曲线具有良好的光顺性和曲线在端点处较好的控制性,采用端点插值的三次非均匀B样条算法逼近测量数据点.
【机 构】
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上海理工大学光学与电子信息工程学院上海200093
【出 处】
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仪器仪表学报
【发表日期】
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2004年z1期
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