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本文主要介绍了新一代便携式X射线荧光仪在铀分析中的应用研究。该仪器主要由电制冷Si-PIN半导体X射线探测器和内嵌工控微机多道谱仪系统组成,整机重约2 kg,利用同位素源产生的X（γ）射线激发待测样品。进行^241Am源和^109Cd源在对铀的激发效率、基体干扰方面的对比分析研究,选出了^241Am源作为分析铀元素的同位素激发源,并测定了该仪器对铀元素的探测下限,为今后的铀矿勘查、开采提供了一种新型、轻便、现场快捷的分析技术和手段。