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在田间和温室筛选的基础上，选取根构型对低磷适应性变化和磷效率均具有显著差异的菜豆基因型ＤＯＲ３６４和Ｇ１９８３３为亲本材料，发展了Ｆ５代重组自交系遗传群体，以基部侧根（以下简称基根）在生长介质中各层的分布、浅根数目以及基根平均生长角度等根构型参数为指标，分析了根构型性状对低磷胁迫适应性变化的遗传特性，发现该性状是一个典型的数量遗传性状。我们进一步应用分子标记技术（ＲＦＬＰ、ＲＡＰＤ、ＡＦＬＰ）对控