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设计了一种基于复杂可编程逻辑器件（complex programmable logic device，CPLD）控制、FLASH MEMORY（闪速大容量存储器）存储的新型存储测试系统。此系统的采样频率最大为1MHz，可灵活选择500kHz、250kHz的不同采样频率，并且系统具有内外触发的功能。实验结果表明，该系统能够准确有效地存储A／D数据的采集。