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VDSM工艺下，芯片的高速、高集成度趋使电磁耦合作用不容忽略；而电感效应的引入使VLSI设计和验证变得复杂，本文阐述了VLSI片上互连线电感提取技术现状及发展方向，对各类提取方法作了扼要比较；同时探讨了互连分析中包含电感效应时存在的部分问题和解决办法，以期作为提高VLSI设计、分析和验证效率的有效向导。