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通过电子探针（EMPA）、X射线光电子能谱（Ⅺ]S）、漫反射谱（DlRs）、光致发光谱（PL）、透射电镜（TEM）、扫描电镜（sEM）和霍尔效应（Hall—effect）等测试手段对天然闪锌矿样品的半导体物理化学性能进行了表征分析。分析结果认为，天然闪锌矿良好的可见光响应性能主要源自其晶格内丰富的类质同像替代离子。此外，样品中的变价元素Fe能够参与价带光生空穴的捕获，提高导带光生电子的利用率，从而提高其光催化活性。样品中丰富的缺陷也有利于光催化活性的提高，大量的解理面和裂开面能够提供较完整的晶面增加反应活