混合信号总线测试方法及应用研究

来源 :计算机测量与控制 | 被引量 : 12次 | 上传用户：ngnza

【摘要】

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简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149 4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片。使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行了简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试等。测试结果表明,IEEE1149 4测试总线在这些测试中是非常成功的,并同时指出了其局限性。

【作者】

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【机构】

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桂林电子工业学院,桂林电子工业学院

【出处】

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计算机测量与控制

【发表日期】

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2004年09期

【关键词】

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