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通过测定电阻和X射线衍射分析 ,研究了 5J2 0 110热双金属及组元在稳定化热处理过程中电阻率和残余应力随循环次数的变化。结果表明 ,热双金属的室温电阻率随循环次数的增加而降低 ,其原因是残余应力随循环次数的增加而降低。通过电阻率的分析可以确定稳定化热处理的工艺参数
热双金属残余应力的电阻分析
【摘 要】
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通过测定电阻和X射线衍射分析 ,研究了 5J2 0 110热双金属及组元在稳定化热处理过程中电阻率和残余应力随循环次数的变化。结果表明 ,热双金属的室温电阻率随循环次数的增加
【机 构】
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浙江大学硅材料国家重点实验室,上海钢铁研究所
【出 处】
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金属热处理
【发表日期】
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2004年07期
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