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利用矢量Monte Carlo算法结合葡萄糖的旋光特性模拟了含糖混浊介质的背散射Mueller矩阵.数值模拟表明:含糖混浊介质的背散射Mueller矩阵元素中除Mll、M14、M41、M44外的其它元素花样均发生龙卷风状的不同程度的扭曲,其中M24、M34、M42、M43的扭曲程度更为显著.研究发现M24、M34、M42、M43二维分布伪彩图的中心线为阿基米德螺旋线,该螺旋线特征参数与混浊介质中的葡萄糖浓度成正比.这一结果将为基于背散射Mueller矩阵的葡萄糖浓度的非接触光学定量检测提供理论依据.