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传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测试时间;用随机测试模式加存储测试模式来提高故障覆盖率。经ISCAS85标准测试电路验证,新方案取得了令人满意的结果。
改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计
【摘 要】
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传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测试时间;用随机测试模式加存储测试模式来提
【机 构】
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宁夏大学物理电气信息学院,华中科技大学多谱信息处理技术国防重点实验室
【出 处】
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科学技术与工程
【发表日期】
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2007年12期
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