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采用恒定功耗高温加速的试验方法，搭建了相关的试验系统，对高温工作寿命试验（HTOL）方法在功率GaAsMMIC领域的应用进行了一些探索。试验获得了对失效机理进行分析所需的失效数，所有样品的失效都是由同一原因引起的。通过监测数据和失效样品的分析，发现存在欧姆接触退化与栅金属下沉两种失效机理，但最终引起失效的机理单一，为栅金属下沉。