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利用HPGe探测器及DSPECPIus谱仪的活时间校准模式（LTC）和零死时间校准模式（ZDT），对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量。结果表明：在计数率急剧变化的情况下，LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失；与ZDT模式的数据相比，初始阶段数据丢失率约2．O％～3．8％。这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响，但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响，实验中，LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2．56％。