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样品晶粒尺寸及样品高度偏差对XRD测试结果存在极大影响.实验结果表明,晶粒尺寸过大会导致异于标准卡片的衍射峰出现,且衍射谱图不具有重现性;样品高度偏差则会导致衍射峰位移动,正高度偏差使衍射峰向高角度方向移动,负高度偏差使衍射峰向低角度方向移动,峰位移动量与高度偏差呈正比：△2θ=360cosθ/πR△h.样品晶粒和高度偏差过大以致结果异常的情况应视为制样错误,