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20世纪70年代以来，伴随计算机技术、大规模集成电路、可编程逻辑器件、高速数据信号处理器的迅猛发展，各种数字系统的设计、开发、检测任务越来越多，也越来越复杂了。数字电路系统所处理的信息都是用离散的二进制来表示，常用“1”来表示高电平，“0”表示低电平，多个二进制位的组合构成一个数据，我们称这一领域是数据域；该领域测试技术即被称为数据域测试技术，简称数据域测试。