如何做到上下同心、视质量为生命?——访浙江省台州医院院长陈海啸

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随着工艺尺寸的不断缩小以及新结构新工艺的发展,深亚微米器件也更加容易受到静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)冲击而导致失效,从而造成电路可靠性下降。栅接地NMOS(Gate Grounded NMOS,GGNMOS)作为CMOS技术中ESD保护器件的有效结构之一,具有泄放机理简单且与CMOS工艺完全兼容等一系列优点,已被广泛应用于ESD保护电路中。但在先进深亚微米CM
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