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为解决SD卡阵列图像光照不均匀的问题,提出了一种基于明场暗场区域分析的自适应阈值分割算法。算法首先通过改进大津法对SD卡灰度图像进行初次阈值分割,然后利用改进模板匹配算法完成定位,最终依据定位结果完成第2次阈值分割。为解决SD卡姿态多变的问题,提出了一种基于多特征融合的形态识别算法,完成对变化姿态目标的形态识别。试验结果表明,SD卡形态识别准确率大于99.9%,工作节拍小于300ms。算法具备良好的鲁棒性,能够满足工业现场要求。